Laser di Marcatura Basic e Professional Serie CFM
Realizzati con tecnologia laser a fibra di Ytterbio, costituiscono la scelta ideale per la marcatura e l’incisione di tutti i metalli preziosi, semipreziosi, acciaio, titanio ed altri materiali, metallici e non. L’architettura aperta soddisfa gli standard di qualità definiti dai piu’ prestigiosi brand di alta gioielleria , facilitando l’accesso all’area di lavoro e la movimentazione degli oggetti da marcare.
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Tecnologia
Laser a fibra attiva drogata all’Ytterbio (Yb), lo stato dell’arte nei processi di incisione e marcatura, con alto risparmio energetico e minimo impatto ambientale e manutentivo.
Marcatura
In grado di marcare tutti i metalli e diversi non metalli, linea minima di larghezza 0.03mm, altezza minima del carattere 0.3 mm , profondità di marcatura fino a 1mm.
Affidabilità
Struttura ad elevata robustezza con eccellente smorzamento alle vibrazioni. Ideale per la marcatura in produzione, nella piccola officina ed in laboratorio
Convenienza
Proposto ad un prezzo davvero accessibile se rapportato alla qualità ed al Servizio di Assistenza pre e post-vendita fornito.
Compatibilità
Supporta la codifica automatica, numero seriale, numero di lotto, codici a barre. Compatibile con i software di progettazione grafica CORELDRAW, AUTOCAD, PHOTOSCHOPE ed in grado di importare e stampare files AI, PLT, DXF, BMP, JPEG.
Flessibilità
Mandrino rotante motorizzato (opzionale) per la marcatura di precisione continua a 360° su anelli e bracciali.
MODELLO |
CFM 10F |
CFM 20F |
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Sorgente Laser |
Laser pulsato a fibra ottica all’itterbio |
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Potenza media |
10W |
20W |
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Lunghezza d’onda |
1064nm |
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Qualita’ del fascio / M² |
M²>1.6 |
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Lunghezza d’impulso |
130ns @ 20KHz |
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Energia Massima |
0.6mJ |
1mJ |
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Guida Laser |
Doppio puntatore a diodo laser 650nm 2mW |
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Frequenza di lavoro |
20Hz - 100KHz |
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Area di Marcatura |
70mm x 70mm / 100mm x 100mm (Opzionale) |
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Velocità di marcatura |
<15.000 mm/sec |
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Corsa Asse Z |
300mm |
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Frequenza Laser |
20 - 100kHz |
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Sistema di raffreddamento |
Ad aria |
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Linea minima di larghezza |
0.03mm |
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Carattere minimo |
0.3mm |
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Ripetibilità |
0.003mm |
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Potenza assorbita |
500W |
800W |
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Alimentazione |
220V AC, 60Hz / 1P / 4A or 110V / 50Hz / 1P / 8A |
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Dimensioni |
600mm x 460mm x 530mm |
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Peso |
45kg |
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Ampio assortimento di standard a spessore certificati A2LA ( ACCREDIA) ed infiniti (elementi puri) compatibili con tutti gli analizzatori XRF commerciali (Oxford, CMI, Helmut Fischer, Seiko, Roentgen, Thermo/Veeco, UPA..., Bruker)
Gli standard sono sovrapponibili l'uno all'altro per la calibrazione di elementi multistrato (es. Au/Ni su Ottone), e possono essere inseriti nel relativo holder per maggiore praticità e facilità di utilizzo.
Elemento |
Spessori disponibili |
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Ag |
0.1µm - 0.25µm - 0.5 µm – 1µm - 2µm - 4µm - 9µm- 15um - 25µm |
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Ag/Cu |
4.5µm |
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Ag/Fe |
4.5µm |
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Au |
0.05µm - 0.1µm - 0.25 µm – 0.5µm – 0.75µm – 1.5µm - 2µm- 6um |
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Au/Ni |
0.5µm – 1.5µm |
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Au/Ni/Cu |
0.75µm (Au) |
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Cd |
5µm - 10µm- 15um |
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Co |
1µm - 2µm - 4µm - 10µm |
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Cr |
0.5µm – 1µm |
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Cr/Ni |
1.375 µm – 3.75µm – 12.5µm |
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Cr/Fe |
1.25 µm – 3.75µm – 12.5µm |
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Cu |
1µm - 2µm - 5µm - 9µm- 15um |
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CuZn |
2.5µm – 7.5µm – 15µm |
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Ni |
1µm - 2µm - 4µm - 9µm- 15um |
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Pb |
1µm - 2µm - 4µm - 9µm |
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Pd |
0.1µm - 0.25 µm – 0.5µm – 1.5µm |
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Pt |
0.5µm – 2.5µm – 5µm |
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Rh |
0.1µm – 0.5µm – 6µm |
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Ru |
0.1µm – 0.5µm |
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Sn |
0.25µm - 0.51µm - 1µm – 2µm – 2.54µm – 3.05µm - 5µm- 6.1 µm - 9µm |
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SnBi |
7.5 µm (Sn 95%) - 10.2µm (Sn 99%) - 7.6 µm (Sn 97%) - 10.2µm (Sn 97%) 18.3µm (Sn 97%) - 25.4 µm (Sn 98%) |
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SnCu (Sn 95%) |
2µm – 5µm – 10µm - 15µm |
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SnAg |
5.08µm (Sn 98%) - 7.6µm (Sn 95%) - 10.2µm (Sn 98%) - 15.2µm (Sn 95%) |
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SnAgCu (95/4/1) |
5.08µm - 15.2µm |
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SnPb |
7.5 µm (Sn 15%) - 7.5µm (Sn 30%) – 2.5 µm (Sn 60%) - 5µm (Sn 60%) - 10µm (Sn 60%) - 15 µm (Sn 60%) - 25 µm (Sn 60%) - 8.125 µm (Sn 85%) 11.25 µm (Sn 85%) - 8.125 µm (Sn 85%) - 14.375 µm (Sn 85%) – 8.125 µm (Sn 85%) - 2.5 µm (Sn 90%) - 5µm (Sn 90%) - 9µm (Sn 90%) – 15µm (Sn 90%) |
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SnPb/Cu |
1.25 µm (Sn 60%) - 5µm (Sn 60%) – 15 µm (Sn 60%) |
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Ti |
4µm - 10µm |
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Zn |
2.5µm - 5µm - 15µm - 20µm |
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Zn/Fe |
5µm – 18.125µm |
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ZnNi/Fe |
5µm (Ni 5%) - 12.5µm (Ni 5%) - 5µm (Ni 11%) - 12.5µm (Ni 11%) |
Standard "infiniti"
Trattasi di elementi puri disponibili singolarmente o allineati su griglia; sono necessari per la calibrazione XRF a parametri fondamentali (FP) degli elementi costituenti gli strati e la base del materiale.
Elementi disponibili :
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Argento |
Rodio |
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Alluminio |
Rutenio |
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Oro |
Stagno |
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Bismuto |
StagnoPiombo |
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Cadmio |
Tantalio |
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Cobalto |
Titanio |
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Cromo |
Vanadio |
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Rame |
Tungsteno |
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Ottone |
Zinco |
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Epossidico |
Zirconio |
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Ferro |
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Indio |
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Invar |
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Iridio |
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Kovar |
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Molibdeno |
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Nickel |
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Palladio |
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Platino |
Dora Tecnologie propone una gamma di analizzatori XRF allo stato dell’arte per l'analisi rapida e ad alta precisione del titolo dell’oro, dell'argento e degli altri costituenti della lega : la tecnologia XRF è impiegata come valida alternativa al noto metodo della coppellazione per la determinazione del tenore aureo di una lega. L’analisi è veloce, precisa, non richiede una preparazione del campione e, soprattutto, è non distruttiva.
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Spessimetri XRF Compact e Mini eco , Stark , Cube-X e Axiom : la scelta ottimale per il controllo e la certificazione dello spessore di riporti singoli, doppi e tripli nei trattamenti galvanici industriali e nelle finiture superficiali nei processi di zincatura, doratura, nichelatura chimica e elettrolitica, cromatura, argentatura, bronzatura, rodiatura. Questi strumenti, di tecnologia tedesca, e realizzati dalla Aczet Technology, definiscono un nuovo standard nella fluorescenza a raggi X per la qualita’, l’innovazione, la robustezza, e l’impareggiabile rapporto qualità/prezzo.
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La tecnologia XRF
Nel settore delle finiture superficiali, la tecnologia della fluorescenza a raggi X (XRF) e’ un metodo non distruttivo standardizzato per il controllo e la certificazione dello spessore dei rivestimenti galvanici depositati su manufatti in acciaio, leghe di rame, metalli preziosi, ABS. Questi trattamenti sono ampiamente utilizzati dalle industrie per il basso costo di produzione, la lunga durata, l’assenza di manutenzione e l’elevata resistenza alla corrosione.
Architettura intelligente
I migliori componenti hardware integrati (sorgente a raggi X, alimentatore HV, collimatori, rilevatore) a garanzia di robustezza ed affidabilità nel tempo. Facile accesso alla testa di misura per consentire la manutenzione e l’ eventuale sostituzione in loco di un componente, per ridurre al minimo il fermo-macchina.
Software avanzato
- Misurazione degli spessori fino a 4 strati + la base in modalità standard-less
- Impostazione "base variabile" per la misurazione di spessori galvanici su differenti subtrati in lega
- Funzione "layer-adjustment" per la correzione della misura di spessore del secondo e del triplo strato
- Elevata precisione anche per misure di strutture layer /base complesse (rivestimenti PVD)
- Analisi in soluzione/bagno galvanico (g/l) fino a 3 elementi simultaneamente
- Alta precisione nella misurazione del Nickel chimico con 3 applicazioni dedicate (basso, medio e alto fosforo)
- Analisi simultanea di spessore e composizione dei rivestimenti in lega binaria e ternaria
Assistenza qualificata
Il servizio tecnico è fornito da Milano, con personale istruito dal costruttore. I principali pezzi di ricambio sono disponibili presso la nostra sede. Servizio gratuito di controllo remoto degli apparati per la diagnostica, il ripristino del software e la creazione di nuove applicazioni. Tutti gli standard a spessore certificati disponibili per il servizio di calibrazione annuale.
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Analizzatore XRF di Spessore StarkStark - Analizzatore XRF di nuova generazione dal design compatto ed elegante. La geometria down-top consente il posizionamento del campione senza alcuna necessità di mesa a fuoco. Ideale per la misurazione di piccoli campioni, minuteria di precisione, metalli preziosi e accessori moda. Disponibile con detector contatore proporzionale, PIN diode, SDD (Silicon Drift Detector).
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Analizzatore XRF di Spessore Mini-EcoSpessimetro XRF ultra-compatto ed economico ideale per la misurazione di piccoli campioni, minuteria di precisione, accessori moda. Software di misurazione spessori fino a 4 strati più la base, software di misurazione bagno galvanico. Disponibile con detector contatore proporzionale, PIN diode, SDD (Silicon Drift Detector).
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Spessimetro XRF Compact EcoSpessimetro XRF universale con tavola portacampione manuale o motorizzata, ideale per misure di spessore di campioni di piccole e medie dimensioni, minuterie di precisione, componenti automotive, viteria e bulloneria. Disponibile con rivelatore contatore proporzionale, PIN Diode, o Detector SDD.
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Spessimetro XRF Stark Cube-XVersione dello spessimetro MiniEco con fenditure laterali e movimentazione verticale della testa mediante joystick. Ideale per la misura di spessore delle finiture superficiali di piccoli circuiti stampati, lastre, e qualsiasi superficie piana di grande area. Disponibile con rivelatore contatore proporzionale, Pin Diode, o Detector SDD a stato solido.
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Analizzatore XRF di spessore AxiomAnalizzatore XRF con camera ad ampio volume, fenditure laterali e movimentazione verticale della testa mediante joystick. Versioni con tavola fissa o motorizzata. Ideale per la misura di di circuiti stampati e di campioni con grandi dimensioni e peso elevato. Disponibile con rivelatore contatore proporzionale, Pin Diode, o Detector SDD a stato solido.
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